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日本emic電子磁業(yè)LED黑光燈LB-406（LED型） LB-406是用于磁性顆粒 檢查的固定式UV顆粒檢查燈，使用LED可將功耗降低75％或更多； 可通過調(diào)暗量來調(diào)節(jié)UV強度；無風扇可免維護。射線為15,000μW/ cm2或更高，使其非常適合探傷檢測。

日本emic電子磁業(yè)磁粉檢查LED黑光燈LB-104（LED型） LB-104是一種便攜式紫外線探傷燈，用于磁性顆粒探傷測試。 與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，通過使用LED，重量減少了60％！此外，功耗可降低80％或更多!! 紫外線的中心強度為10,000μW/ cm2或更高，使其非常適合進行探傷檢測。

日本nacacue傷痕?異物檢查用光源LA-0 光線控制 : 平行光。Work Distance 可變化。通過X-Y 2軸進行照明、從而實現(xiàn)了檢測感度的提升。大尺寸檢測物體亦可對應。尺寸可以根據(jù)客戶需求進行定制。

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