HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀

HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀，專為需要高測量精度的應用場景設計。通過保持測量頭向下恒定，消除了人為操作帶來的測量誤差，確保測量結(jié)果的穩(wěn)定性和可靠性。該設備適用于超薄膜材料的測量，操作舒適且測量精度高。

核心特點

1. 高精度測量

• 測量分辨率：0.01μm

• 測量范圍：0~500μm

• 精度高，適合超薄膜材料的精確測量。

2. 恒定測量壓力

• 測量壓力：0.14N

• 通過恒定壓力設計，確保測量頭與樣品接觸時壓力一致，避免因壓力變化導致的測量誤差。

3. 特殊測量元件

• 測量元件：R30碳化物球形表面

• 碳化物材料具有高硬度和耐磨性，適合長時間使用，球形表面設計確保與樣品接觸時的穩(wěn)定性和精度。

4. 消除人為誤差

• 通過保持測量頭向下恒定，減少人為操作對測量結(jié)果的影響，確保測量的一致性和可靠性。

5. 操作舒適

• 設計符合人體工程學，操作簡單，適合長時間使用。

技術(shù)參數(shù)

應用領域

1. 半導體行業(yè)

• 用于測量晶圓、光刻膠等超薄膜材料。

2. 光學薄膜

• 適用于鏡頭、濾光片等光學元件的薄膜厚度測量。

3. 電子行業(yè)

• 用于顯示屏、觸摸屏等薄膜材料的厚度檢測。

4. 材料研究

• 適用于新材料研發(fā)中的超薄膜厚度測量。

使用注意事項

1. 校準

• 定期校準設備，確保測量精度。

2. 環(huán)境控制

• 避免在振動或溫度波動較大的環(huán)境中使用，以免影響測量結(jié)果。

3. 樣品準備

• 確保樣品表面清潔、平整，避免雜質(zhì)影響測量。

4. 測量頭維護

• 定期檢查測量頭（R30碳化物球形表面）的磨損情況，必要時更換。

產(chǎn)品優(yōu)勢

• 高精度：0.01μm的分辨率，滿足超薄膜測量需求。

• 穩(wěn)定性：恒定測量壓力和向下恒定設計，消除人為誤差。

• 耐用性：R30碳化物測量元件，耐磨且壽命長。

• 易用性：操作簡單，適合多種材料和場景。

總結(jié)

HKT-MASTER 0.01AA 是一款高性能的超薄膜測厚儀，適用于需要高精度和穩(wěn)定性的測量場景。其設計和高質(zhì)量的材料使其在半導體、光學、電子和材料研究等領域具有廣泛的應用價值。